光焱科技拥有完整的产品线
探索符合您需求的理想设备
了解我们的新品吗？
浏览我们精选的顶尖设备
不确定如何挑选？
根据您研究方向选择设备，或联系光焱科技获得专业协助
高阶检测模拟光源 illuminator
- 集成光源：集成测试机（Advantest 爱得万、Teradyne 泰瑞达测试机）
- 整合型光源：整合探针台
- 超准直光源
- 超均匀光源
- 超低亮度光源
硅光子ROSA Receiver检测
CIS影像感测芯片检测
ToF芯片检测
- LiDAR 激光雷达SPAD单光子雪崩二极管检测
- I-ToF芯片检测
- D-ToF芯片检测
PD光电探测器（Photodetecter）、雪崩型光电探测器检测
晶圆级光电子芯片检测
- 晶圆级CP测试
- 晶圆级量子效率测试WLQE（Wafer Level Quantum Efficiency）
- 量子效率测试（Quantum Efficiency， QE）
- 光子转移曲线（Photo Transfer Curve， PTC）
- 晶圆级斜向入射光量测WLAR
- Chief Ray Angle（CRA）
- 光串扰测试 Cross Talk