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decrease testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 12件
To provide a microbiological testing chip, testing instrument and testing method to prevent the generation of stray light caused by the reflection of excitation light, thereby preventing the decrease in the received light quantity of fluorescent light.例文帳に追加
励起光の反射による迷光の発生を回避し、蛍光量の受光量の減少を回避する微生物検査チップ、検査装置、および検査方法。 - 特許庁
To decrease the scale of a microcomputer for testing a memory part and a logic part, and to eliminate the wasted time of the test to shorten a test time.例文帳に追加
メモリ部及びロジック部をテスト可能なマイコンを小規模化し、かつテストにおける無駄な時間を解消し、テスト時間を短縮する。 - 特許庁
To provide an automatic wiring board system that can decrease a waiting time for test connection and select a matrix board connected to a testing apparatus.例文帳に追加
本発明は、試験接続待ち時間を短縮させることと、試験機と接続させるマトリックスボードを選択できるようにすることを目的とする。 - 特許庁
To suppress an increase in circuit area in a semiconductor integrated circuit, and to each decrease the consumption electric power during scanning testing and during built-in self-testing of logic circuit (logic BIST), without affecting the function operating speed.例文帳に追加
半導体集積回路において、回路面積の増加を抑え、またファンクション動作速度に影響を与えることなく、スキャンテスト中及びロジック回路部分の組み込み自己テスト（ロジックＢＩＳＴ）中の消費電力を低減する。 - 特許庁
To provide a method for testing microorganisms, capable of quickly and easily monitoring the increase or decrease of the microorganisms presenting on a tested surface after passing a certain period of time from a time point.例文帳に追加
ある時点から一定時間経過後の被験面に存在する微生物の増減を、迅速かつ簡易にモニタリングできる微生物試験方法を提供することである。 - 特許庁
To provide a method for easily and quickly estimating an amount of decrease in alkali concentration (Rc) in an alkali-silica reactivity testing method (chemical method) of an aggregate.例文帳に追加
骨材のアルカリシリカ反応性試験方法（化学法）におけるアルカリ濃度減少量（Ｒｃ）を、より簡便で短時間に推定する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To enable testing by pin-multiplex function by applying the operation of a logic circuit for example to the test, and effectively evading decrease of the number of measurable channels.例文帳に追加
本発明は、半導体試験装置に関し、例えば論理回路の動作を試験に適用して、測定可能なチャンネル数の減少を有効に回避してピンマルチにより試験することができるようにする。 - 特許庁
To simplify a system construction in testing and evaluating tested devices, to reduce maintenance cost by making maintenance easy, to reduce development cost by making easy development of boards for the tested devices, to shorten a development period, to measure correctly signals for testing and examining the tested devices, and to decrease down time.例文帳に追加
被試験デバイスの試験及び診断における装置構成を簡単にし、メンテナンスを容易にしてメンテナンス費を削減し、被試験デバイスのボードの開発を容易にして開発コストを削減し開発期間を短縮し、被試験デバイス試験用及び診断用の信号を正確に測定し、ダウンタイムを低減することである。 - 特許庁
To prevent the decrease of a data transfer speed depending upon a test data bus for single-DRAM-part evaluation and to suppress an increase in the number of pads for testing the single DRAM part as to the semiconductor storage device having an MPU and a secondary cache DRAM on one chip.例文帳に追加
ＭＰＵと２次キャッシュ用ＤＲＡＭとを１チップ化した半導体記憶装置において、ＤＲＡＭ部単体評価のためのテスト用データバスに基づくデータ転送速度の低下を防止し、ＤＲＡＭ部単体テスト用のパッド数の増加を抑制する。 - 特許庁
To provide an inexpensive testing device capable of guaranteeing a safe operation by reducing the fluctuation of the output currents of each constant voltage power source circuit and the decrease of the output voltage due to the difference of output impedances or the difference of the characteristics of operational amplifiers in plural constant voltage power circuits.例文帳に追加
複数の定電圧電源回路内の出力インピーダンスの差や演算増幅器の特性の差によって、各定電圧電源回路の出力電流のばらつきおよび出力電圧の降下が小さく、安全性な動作を保証でき、かつ安価な試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a redundancy relieving circuit and a method therefor, and semiconductor device in which the test time for testing a defective memory cell is shortened, the test device is made inexpensive by dispensing with fail memories having extensive capacity accumulating defective bits, and the device can easily cope with the increase and decrease of the number of IO.例文帳に追加
不良メモリセルをテストするテスト時間を短縮し、不良ビットを蓄積する膨大な容量を有するフェイルメモリを不要としてテスト装置を安価とし、ＩＯ数の増減に対しても容易に対応することができる冗長救済回路、方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁
To provide a testing device, method and program for an exchange controller that can adapt to TCP/IP, decrease the amount of operations for adaptation to different kind of exchanges, adapt to use of a redundancy system and a file transfer protocol, and reduce generating operations for data etc.例文帳に追加
ＴＣＰ／ＩＰに対応することができること、異機種交換機への対応作業の作業量を削減することができること、冗長化システム及びファイル転送プロトコルの利用に対応することができること、データ類の作成作業を削減できることを実現できるようにする。 - 特許庁
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