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半導體晶圓片檢測服務
涵蓋矽光子學、III-V雷射、二極體、鈮酸鋰及PLC等材料
晶圓級
  • 晶圓缺陷分析
  • 晶圓OE/RF加熱測試
  • 垂直&水平對光
  • 平台运营
晶片級
  • 晶片切割
  • 晶片分類
  • OE/RF測試
  • COC晶片鍵合
  • COC引線鍵合

器件級封裝和整合服務

TO-CAN、BGA封裝 - 器件光纖耦合 - 接縫密封 - 雷射焊接 - 老化壓力測試

應用案例

平面波導光延時線測量
什麼是光頻域反射(OFDR)技術?
光頻域反射(Optical Frequency Domain Reflectometry,簡稱OFDR)技術透過測量被調製的偵測光產生的瑞利散射訊號頻率來對散射訊號進行定位的,具有極高的空間解析度和感測···
04-12
2018
OCI-V測試光纖在不同波長下的彎曲損耗
在實際使用過程中光纖都會不可避免地被彎曲,當彎曲半徑小於光纖的最小彎曲半徑後,光的傳輸途徑會發生相應的改變,在彎曲處有一部分光會從基模中洩露,滲透到包 層或穿過包···
04-12
2018
啁啾光柵光譜及延時測量
色散是長距離、高速率光纖通訊的主要障礙。相較色散補償光纖,啁啾光柵表現出補償量大、插入損耗小、成本低廉等優點,在長距離無中繼傳輸應用中具有良好的前景。由於光柵在···
04-12
2018
OCI-V測量FBG受壓時的偏振相關損耗
光纖光柵(FBG)作為一種新型的被動元件,為光通訊和光感測成功開闢了一條嶄新道路,從光纖光柵技術被應用以來,該技術在光纖感測技術和高速光纖通訊領域得到了飛速 發展。···
04-12
2018
OFDR空間解析度、感測空間解析度和感測器標距的差異?
空間解析度是指儀器可詳細區分最小單元的大小或尺寸空間解析度是OFDR技術最重要的效能指標之一,它決定了系統的定位精度和測量點的分佈密度。空間解析度越高(數值越小),···
04-12
2018
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