Image SXM für Mac

Image SXM ist eine erweiterte Version der Bildanalyse-Software NIH Image, die für das Laden, Anzeigen und die Analyse von Rastermikroskopbildern entwickelt wurde. Image SXM unterstützt SAM, SCM, SEM, SFM, SLM, SNOM, SPM und STM Bilder von den folgenden Systemen:

• Asylum Research MFP-3D
• Burleigh Instruments
• DI NanoScope II
• DI NanoScope III
• DI NanoScope IV
• DME Rasterscope
• DME Surface Data File
• Gatan DigitalMicrograph
• JEOL JSM
• JEOL WinSem
• JEOL WinSPM
• JPK Instruments
• Klocke Nanotechnik Atomikro
• Leica LIF
• Leica TCS
• Molecular Imaging PicoScan
• NanoMagnetics Instruments SPMSIF
• Nanonics Imaging
• Nanonis
• Nanosurf easyScan
• Nanotec Electronica WSxM
• Noran Instruments Vantage
• NT-MDT
• Omicron Vakuumphysik
• Omicron SCALA
• Omicron Matrix
• Oxford Instruments TOPSystem
• Park Scientific Instruments HFS-LIF
• Park Scientific Instruments HDF
• Philips SEM
• Quesant Instruments
• RHK Technology SPM-32
• RHK Technology XPMPro
• Seiko Instruments (SIINT) SPI
• SPECS STM Aarhus
• ThermoMicroscopes
• TopoMetrix SPMLab
• Unisoku
• Vacuum Generators SAM
• Veeco Innova
• WA Technology
• WA Technology TOPSystem
• Zeiss AxioVision
• Zeiss LSM

Zusätzlich werden die folgenden Nicht-SXM-Dateiformate ebenfalls unterstützt:

• AVI
• Bio-Rad
• BMP
• FITS
• Hamamatsu Image Seq
• Nikon NEF
• Omicron SPA-LEED
• PDSF
• PDSS
• Pentax PEF
• Philips APD
• SBIG CCD
• SPEC
• Targa TGA
• UBM
• Wyko OPD